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        技術(shù)專(zhuān)區(qū)

         
        • [行業(yè)動(dòng)態(tài)]打破國(guó)外長(zhǎng)期技術(shù)封鎖,提“器”! [行業(yè)動(dòng)態(tài)]打破國(guó)外長(zhǎng)期技術(shù)封鎖,提“器”!

          在昨天(10月15日)召開(kāi)的2025灣區(qū)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)生態(tài)博覽會(huì)上,我國(guó)自研的90GHz實(shí)時(shí)示波器正式發(fā)布,這一成果標(biāo)志著我國(guó)在高端電子測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)關(guān)鍵突破,打破了國(guó)外長(zhǎng)期技術(shù)封鎖....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-16    瀏覽次數(shù):782
        • PEM羅氏線圈保修條件全解析 PEM羅氏線圈保修條件全解析

          PEM羅氏線圈明確界定了保修責(zé)任的豁免范圍,主要集中在非產(chǎn)品本身質(zhì)量導(dǎo)致的問(wèn)題....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-15    瀏覽次數(shù):654
        • 示波器如何校驗(yàn)探頭補(bǔ)償? 示波器如何校驗(yàn)探頭補(bǔ)償?

          示波器探頭補(bǔ)償校驗(yàn)是確保測(cè)量信號(hào)不失真的關(guān)鍵步驟,核心是通過(guò)調(diào)節(jié)探頭上的補(bǔ)償電容,讓校準(zhǔn)信號(hào)顯示為標(biāo)準(zhǔn)方波....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-15    瀏覽次數(shù):641
        • PKC7000系列高頻電流探頭選型指南 PKC7000系列高頻電流探頭選型指南

          PKC7000系列高頻電流探頭憑借其卓越的帶寬特性,高精度測(cè)量能力以及廣泛的應(yīng)用適應(yīng)性,已成為工程師在開(kāi)關(guān)電源,電機(jī)驅(qū)動(dòng),新能源,LED照明等領(lǐng)域的首選工具....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-14    瀏覽次數(shù):927
        • AEF電路殘余干擾檢測(cè):探頭選型的核心要點(diǎn) AEF電路殘余干擾檢測(cè):探頭選型的核心要點(diǎn)

          AEF(有源 EMI 濾波器)的核心任務(wù)是精準(zhǔn)捕捉接地系統(tǒng)未完全消除的殘余干擾信號(hào),這類(lèi)信號(hào)通常具有"幅值微弱(mV 級(jí)/μA 級(jí)),頻率跨度大(150kHz 至 1GHz),疊加于有用信號(hào)之上"的特點(diǎn)....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-13    瀏覽次數(shù):1020
        • 差分信號(hào)接地:從原理到實(shí)踐的抗干擾密鑰 差分信號(hào)接地:從原理到實(shí)踐的抗干擾密鑰

          差分信號(hào)通過(guò)一對(duì)極性相反,幅值相等的對(duì)稱(chēng)信號(hào)(如 RS485 的 A/B 線)傳輸信息,接收端僅響應(yīng)兩線間的電壓差值,對(duì)同時(shí)作用于兩線的共模干擾天然免疫....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-13    瀏覽次數(shù):898
        • 源表測(cè)試好幫手:4mm雙頭香蕉插測(cè)試線套件PK1041B 源表測(cè)試好幫手:4mm雙頭香蕉插測(cè)試線套件PK1041B

          在電子測(cè)試領(lǐng)域,源表作為能提供精確電壓,電流并進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量的核心設(shè)備,其測(cè)試過(guò)程中連接的穩(wěn)定性與可靠性至關(guān)重要....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-11    瀏覽次數(shù):911
        • 第三代半導(dǎo)體電壓電流測(cè)試:半橋下管測(cè)試方案解析 第三代半導(dǎo)體電壓電流測(cè)試:半橋下管測(cè)試方案解析

          以下的測(cè)試方案共同構(gòu)成了半橋下管測(cè)試的完整體系,為第三代半導(dǎo)體的研發(fā),生產(chǎn)與應(yīng)用過(guò)程中的電壓電流測(cè)試提供了全面,可靠的技術(shù)手段....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-11    瀏覽次數(shù):774
        • 第三代半導(dǎo)體半橋上管電壓電流測(cè)試方案 第三代半導(dǎo)體半橋上管電壓電流測(cè)試方案

          在第三代半導(dǎo)體技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用中,對(duì)半橋電路上管的電壓,電流參數(shù)進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試,是評(píng)估器件性能,優(yōu)化電路設(shè)計(jì)的核心環(huán)節(jié)....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-10    瀏覽次數(shù):715
        • 普通探頭接浮地測(cè)試對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響及優(yōu)化方案? 普通探頭接浮地測(cè)試對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響及優(yōu)化方案?

          普通探頭因接地阻抗高,缺乏隔離設(shè)計(jì),在浮地測(cè)試中會(huì)導(dǎo)致信號(hào)失真,精度下降,甚至引發(fā)設(shè)備損壞與人員安全風(fēng)險(xiǎn),無(wú)法滿(mǎn)足浮地測(cè)試的準(zhǔn)確性與安全性要求....

          發(fā)布:西安普科科技    更新時(shí)間:2025-10-10    瀏覽次數(shù):776
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