使用近場探頭如何進行EMI干擾排查

發(fā)布：西安普科科技

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　　電磁干擾EMI在開發(fā)電子產(chǎn)品的過程中(ElectroMagneticInterference)這是工程師必須考慮的問題。

　　電磁干擾(EMI)可能會導致很多問題，尤其是在產(chǎn)品開發(fā)或產(chǎn)品驗收階段。

　　如果電路設計受到電磁干擾的影響，可能會出現(xiàn)數(shù)據(jù)接觸不良或其他線路故障的亂碼顯示。

　　為了最大限度地減少電磁干擾的影響，各國政府機構對各種產(chǎn)品類型的EM輸出制定并實施了嚴格的標準，一般稱為電磁兼容性(EMC)測試。

　　在上市之前，所有與電子相關的產(chǎn)品都必須通過電磁兼容性測試。

　　很多EMC兼容性測試失敗的原因主要來自于電路中射頻能量泄漏和電路板設計本身的相互影響。

　　造成這種干擾的電場和磁場肉眼是看不見的，當我們想深入研究原因，以最大限度地減少EMI的影響時，往往會發(fā)現(xiàn)問題非常復雜。

　　是什么導致了這個問題?

　　造成輻射干擾的信號或能量來源在哪里?

　　我該如何解決?

　　好在，我們可以通過一些簡單的工具和技術來幫助識別EMI干擾源。一旦確定了干擾源，我們就可以開始著手解決問題。那么怎么去找出干擾源呢?我們需要用到一種技術，這種技術不是嚴格意義上的標準EMC兼容測試，而是一種預測試，它可以幫助我們快速找到干擾源可能存在的地方，并且不需要昂貴的專業(yè)設備和實驗室裝置。

　　在本篇應用指南中，我們將介紹一些常用的預兼容測試相關的技術，例如使用近場探頭來查找可能的EMI泄漏源。此項技術可以快速地識別問題，有效地節(jié)約時間和經(jīng)濟成本。

　　需要注意的是，預一致性測試旨在于幫助識別和解決可能會阻礙EMC認證的問題，并不能完全替代認證實驗室的EMC合規(guī)測試。

　　2、電磁輻射基礎知識

　　電磁輻射最常見的產(chǎn)生方式是導體中電流的突變或者電壓的驟升，輻射的路徑通過PCB走線，器件的引腳，連接器或者是其它的金屬介質(zhì)，包括機箱，機架或者是產(chǎn)品的外殼。電磁輻射實際上是指電場和磁場的相互作用，相互影響。它常常被這樣描述：正交時變的電場和磁場的傳播，如下圖1 所示。

　　圖1 圖左上角是電磁波的傳播，注意，電場和磁場是互相正交的

　　圖2 由電流產(chǎn)生的磁場

　　和磁場不一樣，電場由移動或者靜止的電荷產(chǎn)生。因此，當在散熱片或金屬外殼等諸如此類導電體的表面上產(chǎn)生電磁輻射時，電場產(chǎn)生的輻射會居于主導地位。電場產(chǎn)生的影響也傾向于遠離源(遠場)。某些環(huán)境因素如無線電臺，wifi或者是人為的射頻干擾信號，都使得遠場測量更容易出現(xiàn)錯誤。遠場測量，比如說某個兼容測試中的信號發(fā)射部分的測量，要求測量者擁有比進行近場測量更復雜的設備和更豐富的知識。

　　通過測量由導體產(chǎn)生的電磁場的幅值和頻率，我們可以找出最可能導致EMI干擾問題的區(qū)域。

　　3、設備清單

　　以下是一些用于近場故障排除的基礎設備清單：

　　頻譜儀/EMI接收機：測量相對于頻率的RF功率。頻譜儀的最高輸入頻率應該不低于1GHz, DANL為-100dBm (-40dBuV)或者更小，RBW不低于10kHz。

　　近場探頭：分為磁場近場探頭和電場近場探頭。

　　50歐姆同軸線纜：使用與近場探頭和頻譜分析儀RF輸入口相匹配的線纜。如果需要的話，探頭，同軸線纜，連接器可以同時配套購買。

　　探頭：因為人類的肉眼無法直接看到電磁波，所以我們需要借助一些工具輔助測量?；叵胍幌挛覀儎倓偺岬降?，導體中的移動電荷產(chǎn)生輻射到整個空間的電磁場。

　　我們可以通過測量電磁場功率值來衡量電路中的感應電壓，從而間接地測量出源電場的強度。在EMI故障排除的過程中，最常用到的探頭是近場探頭。

　　流過探針的“環(huán)路”區(qū)域的磁場會產(chǎn)生可測量的電壓(圖3)。環(huán)形區(qū)域越大，磁通量就越大，因此更適合尋找一些小信號。但是小的環(huán)形區(qū)域提供更好的空間分辨率(從而可以更精確地找到問題點)。許多測試工具中的探頭都有多種環(huán)尺寸(見圖4)，從而幫助用戶更好地實現(xiàn)靈敏度和空間分辨率之間的平衡。

　　電場探頭通常不會有一個環(huán)形的區(qū)域。用他們獲得電場信息的方法更像是單極天線。與磁場探頭一樣，電場探針旋轉(zhuǎn)與否不影響測量結果，但與信號源的距離是非常重要的影響因素。

　　以下是探頭的使用指南：

　　關閉被測設備，觀察頻譜儀的測量值，測出本底輻射。注意，任何可能由環(huán)境或者本底輻射引起的的射頻干擾都要關注。如果在屏蔽良好的實驗室中，這個問題可能不是很大，但在普通的實驗室中，一定要提前測得環(huán)境中存在的本底干擾。

　　探頭的擺放，通信端口終端，以及機器外殼的接縫、通風口等，這些都是在測試中容易出現(xiàn)問題的地方。

　　電場或磁場的探頭離信號源近一點會測得更高幅值。

　　磁場探頭放置的方向垂直于磁場會比平行于磁場測得更高的數(shù)據(jù)。

　　因為在重復的實驗中探頭的位置是比較重要的，因此把一個不導電的夾具(如木頭，塑料)固定在被測設備上，那么探頭就可以使用了。記住，探頭的位置和放置方向是十分重要的，一點點的位置偏差或者一點點的角度偏差都會在對被測設備進行實驗時引起很大的誤差。