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        技術(shù)專區(qū)
         

        電壓探頭的底噪怎么測?

        發(fā)布:西安普科科技
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        測量電壓探頭底噪的核心原則是切斷外部信號輸入,僅采集探頭自身的噪聲信號,通過示波器觀測并計(jì)算噪聲的幅值或有效值,步驟如下:

        一、測試前準(zhǔn)備

        設(shè)備清單:

        待測電壓探頭(如高壓差分探頭、單端電壓探頭)

        示波器(帶寬需高于探頭帶寬,確保測量準(zhǔn)確性)

        50Ω 終端匹配器(若探頭支持)

        短路帽 / 金屬短路片(用于短接探頭輸入)

        接地連接線(低阻抗,減少外部干擾)

        環(huán)境準(zhǔn)備:

        選擇電磁干擾小的環(huán)境(遠(yuǎn)離大功率設(shè)備、高頻信號源)

        示波器和探頭均需預(yù)熱 10~30 分鐘,確保性能穩(wěn)定

        探頭與示波器的連接需牢固,避免接觸不良引入額外噪聲


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        二、關(guān)鍵測試步驟

        短接探頭輸入端子

        對于單端電壓探頭:將探頭的信號端(正端)與接地端(負(fù)端)直接短接,可使用短路帽或金屬片連接,確保無外部信號輸入。

        對于差分電壓探頭:將兩個(gè)差分輸入端(V + 和 V-)短接,同時(shí)保持探頭接地端可靠接地,避免共模噪聲干擾。

        若探頭有衰減檔位(如 1X/10X),優(yōu)先測試常用檔位(如 10X),不同檔位底噪可能不同。

        設(shè)置示波器參數(shù)

        耦合方式:選擇 DC 耦合(AC 耦合會濾除低頻噪聲,導(dǎo)致測量結(jié)果偏低)。

        帶寬限制:若測試特定帶寬下的底噪,可開啟示波器的帶寬限制功能(如 20MHz);若測試全帶寬底噪,則關(guān)閉帶寬限制。

        時(shí)基設(shè)置:調(diào)整為適中的時(shí)基(如 100μs/div),確保屏幕上能顯示穩(wěn)定的噪聲波形。

        垂直檔位:調(diào)小垂直檔位(如 1mV/div 或 2mV/div),讓噪聲波形占滿屏幕 2/3 左右,便于觀測。

        觸發(fā)方式:選擇 Auto(自動觸發(fā)),確保波形穩(wěn)定顯示。

        消除接地環(huán)路干擾

        探頭接地夾應(yīng)盡量靠近短接處,縮短接地引線長度(過長會引入電磁干擾)。

        若示波器有隔離通道或使用電池供電,可進(jìn)一步降低接地環(huán)路帶來的噪聲。

        采集噪聲數(shù)據(jù)

        觀察示波器屏幕上的噪聲波形,為隨機(jī)噪聲,無固定頻率成分。

        記錄噪聲的 峰峰值(Vpp):即噪聲波形最高點(diǎn)與最低點(diǎn)的電壓差,這是最直觀的底噪指標(biāo)。

        若需更精準(zhǔn)的有效值(Vrms),可使用示波器的 測量功能,直接讀取噪聲的有效值(一般峰峰值約為有效值的 6~8 倍)。


        三、數(shù)據(jù)處理與注意事項(xiàng)

        1.多次測量取平均值

        同一檔位下重復(fù)測量 3~5 次,取峰峰值的平均值,減少偶然誤差。

        分別測試探頭不同檔位(如 1X/10X)、不同帶寬下的底噪,形成完整的測試報(bào)告。

        2.區(qū)分底噪與外部干擾

        若噪聲波形中出現(xiàn)固定頻率的尖峰(如 50Hz/100Hz 工頻干擾),屬于外部電磁干擾,需優(yōu)化測試環(huán)境后重新測量。

        正常的探頭底噪應(yīng)為無規(guī)律的隨機(jī)波形,無明顯的周期性成分。

        3.對比參考標(biāo)準(zhǔn)

        參考探頭的 datasheet 指標(biāo),若實(shí)測底噪遠(yuǎn)高于標(biāo)稱值,可能是探頭損壞、老化或連接不良。

        例如普科科技 PKDV508E 高壓差分探頭,標(biāo)稱底噪通常在 mV 級,不同帶寬下數(shù)值不同。


        四、拓展:底噪對測量的影響

        探頭底噪決定了測量的最小可分辨信號,若被測信號幅值接近或低于底噪,會被噪聲淹沒導(dǎo)致無法準(zhǔn)確測量。因此,在微弱信號測試場景(如電源紋波、傳感器小信號),需優(yōu)先選擇底噪更低的探頭。

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        2025-12-22
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