通過識別與消除電磁兼容性(EMC)薄弱環(huán)節(jié)提升抗干擾能力

　　場源工具組介紹

　　Langer EMV-Technik GmbH 提供的H2/H3場源套件 和 E1免疫開發(fā)系統(tǒng) 是電磁兼容性測試的核心工具。這些場源能夠精準(zhǔn)生成可控的電場或磁場，用于定位電子組件中的EMC敏感區(qū)域。

　　場源的分級應(yīng)用原理

　　1.初步篩查：采用低分辨率場源(如BS 02)對組件進(jìn)行大范圍激勵，通過觀察干擾現(xiàn)象快速鎖定潛在故障區(qū)域。

　　2.精確定位：后續(xù)使用高分辨率場源(如BS 04 DB)發(fā)射聚焦場束，精確識別具體薄弱點。

　　注：此過程可能發(fā)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)測試中未檢出的次臨界故障，提前消除這些隱患可增強組件魯棒性。

　　實戰(zhàn)案例：HDMI顯示系統(tǒng)故障診斷

　　故障現(xiàn)象

　　某處理器通過總線與RAM通信時，標(biāo)準(zhǔn)ESD脈沖會導(dǎo)致HDMI顯示器圖像凍結(jié)，僅能通過斷電復(fù)位解決。

　　診斷流程

　　1.錯誤復(fù)現(xiàn)

　　優(yōu)先排除HDMI子系統(tǒng)(連接器/線纜/顯示器)

　　使用E1系統(tǒng)中的BS 02磁場源(最大覆蓋直徑2cm)進(jìn)行全域掃描(圖1)

　　2.區(qū)域聚焦

　　在處理器與RAM區(qū)域成功復(fù)現(xiàn)故障

　　換用BS 04 DB場源(H2/H3套件兼容)縮小范圍至IC間總線(圖2)

　　3.根因確認(rèn)

　　BS 05 DU場源直接激勵總線線路，100%復(fù)現(xiàn)凍結(jié)故障(圖3)

　　新增發(fā)現(xiàn)的"棋盤格"圖像錯誤屬于次臨界現(xiàn)象

　　解決方案

　　即時措施：用銅箔屏蔽總線線路，經(jīng)測試可完全消除故障

　　長期設(shè)計：在PCB布局中將總線置于內(nèi)層并增加接地屏蔽

　　關(guān)鍵建議

　　早期測試：建議在首版原型階段即開展場源掃描，避免后期高成本設(shè)計變更

　　工具選擇：

　　? E1免疫開發(fā)系統(tǒng)

　　? H場源套件H2/H3

　　以上內(nèi)容由普科科技/PRBTEK整理分享， 西安普科電子科技有限公司致力于打造儀器配附件一站式供應(yīng)平臺。主營范圍：示波器測試附件配件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售。涵蓋產(chǎn)品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無源探頭、柔性電流探頭、近場探頭、電流互感器、射頻測試線纜、各類儀器測試附件等。更多信息，歡迎登陸官方網(wǎng)站進(jìn)行咨詢：http://www.jmcsled.cn