LANGER近場探頭
該近場探測器用于研發(fā)過程中的干擾發(fā)射測量。
無源低頻LF系列(100 kHz - 50 MHz)
LF 1近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上長波、中波和短波區(qū)的射頻磁場。使用LF 1探頭組的探頭，可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R400從遠距離探測模塊的干擾發(fā)射情況，接下來再用更高分辨率的探頭LF-B 3、LF-U 5和LF-U 2.5對干擾源進行更精確的定位。采用這些探頭可以測量單個引腳、較大元件和結(jié)構(gòu)件。這些近場探頭小巧輕便，并采用外皮電流衰減和電屏蔽設(shè)計。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部沒有50Ω的終端阻抗。
無源RF系列(30 MHz - 3 GHz)
RF探頭是無源近場探頭，用于在電子模塊研發(fā)階段進行磁場測量，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz。探頭的組合完全符合客戶的需求。
無源XF系列(30 MHz - 6 GHz)
XF系列探頭包含4個無源磁場探頭和3個無源磁場探頭，用于在電子模塊研發(fā)階段進行磁場和磁場的測量，覆蓋頻率范圍為30MHz到6GHz。這種探頭內(nèi)置阻抗器匹配，從而與其他噴嘴(如RF型噴嘴)相比在低頻區(qū)域較不敏感。由于其頻率范圍寬并包含從很大到顆粒尺寸的各種噴嘴，因而涉及廣泛的應(yīng)用。噴嘴的組合完全符合客戶的需求XF系列的探頭可以用于查找階梯模塊的干擾場源。建議，首先使用我們的高靈敏度探頭從遠距離查找模塊的干擾輻射源，然后再用更高精度的探頭進一步精確定位干擾源。通過相應(yīng)地操作近場拾音，能夠測量出電磁場的方向及其分布。這種近場拾音緊湊，并采用外部電流皮衰減。磁場拾音采用電衰減設(shè)計。這種近場拾音可以拾取音色分析儀。或USB的50Ω輸入端。這些近場鏟的內(nèi)部安裝有電阻。
無源SX系列(1 GHz - 20 GHz)
SX近場探頭組包含2個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段以高時鐘頻率測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進行測量，比如貼近單個集成電路引腳、導線、元件及其連接點，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部有一個終端電阻。
HR系列，無源，高達 40 GHz
HR 系列由 H 場探頭和 E 場探頭組成，用于在開發(fā)過程中測量高達 40 GHz 的高頻 RF 場。
有源MFA系列(1 MHz -6 GHz)
該微型探頭可以精確測量電路布局、最小的SMD-元器件(0603-0201)以及平面電路板的IC引腳等的高頻磁場。這種探頭是有源探頭，采用電屏蔽設(shè)計，具有外皮電流衰減性能。借助校正曲線可以將探頭的輸出電壓換算為對應(yīng)的磁場或者導線的電流。該近場探頭通過BT 706型偏置器連接到頻譜分析儀或者示波器的50Ω輸入端。通過標準配置中包含的外接電源適配器和偏置器，可以為內(nèi)置在探頭中的前置放大器供電。
